介紹利用波長分散技術的新型能量分散型螢光X線分析技術(取得美國專利)

 

TECHNO-X所開發的新型螢光X線分析儀 TW-10為利用波長分散技術的能量分散型螢光X線分析裝置，取得前所未有的最高性能。

此獨創性技術取得日本、德國、美國專利認證。

 

 

 

 

 

 

 

採用該技術之新型螢光X線分析儀(XRF TW-10)

 

TECHNO-X今後將會活用此技術，發展新型能量分散型螢光X線儀器。

身為能量分散型螢光X線研發領導者，我們將繼續提供最高性能的分析儀器，敬請關注。

 

各國專利認證狀況

ドイツ	102012112866.9	Röntgenfluoreszenzspektrometer und Röntgenfluoreszenzanalysator	2015年2月19日
日本	特許5907375	「蛍光Ｘ線分析装置及び蛍光Ｘ線分析方法」	2016年4月26日
米国	US 9,448,191 B2	”X-Ray Fluorescence Spectrometer and X-Ray Fluorescence Analyzer”	2016年9月20日

 

技術概要