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特性X射線(Characteristic X-rays)
是由高速電子將原子內層軌道上的電子電離撞出
原子外層電子掉入內層軌道上之空位時,其多餘之能量以光子放出
所產生之射線在光譜上為一明線,稱之為特性X射線。
其能量和該原子的原子序及其變遷之兩軌道層有關。由n層軌道到m層軌道所產生之特性X射線的能量可寫成
ΔE=hδn-m=h⊂R(z-a)2(方程式1)
此式是一九一三年毛斯里(Moseley)所發現
式中v是X射線之頻率,h是蒲朗克常數,c是光速,R是Rydberg's常數,Z是原子序,(Z-a)是有效原子核之正電荷數。
特性X射線具有較高的能量和單一波長性,廣泛以繞射和光譜技術用之於物理、化學,及生物科學上,做成分分析及結構之測定。
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